报告题目：原子探针层析技术数据的深入分析
报告人：博尔博士  沙特阿拉伯王国 阿卜杜拉国王科技大学
报告时间：2013年4月9日 上午10:00
报告地点：延长校区材料所3层会议室


报告摘要：In Atom Probe Tomography (APT) the process of field evaporation governs the progress of an analysis. The Field Evaporation Field (FEF) is known to exhibit different strengths for different crystallographic directions for pure metals. However this is not considered in currently used APT-models. This presentation will introduce a method to calculate small differences in the FEF for crystallographic directions from experimental APT data of W. 
    To obtain this information we developed an upgraded version of the Atom Vicinity algorithm, which is mostly identical to what is also called “spatial distribution maps”. It allows calculating the average atomic neighborhood of atoms.  This can also be utilized to determine site occupation of ternary elements in ordered phases, which will be discussed for the Ti-Al system.?
    The results were acquired with two different commercial atom probes, the Laser assisted Wide Angle Atom Probe (LA-WATAP) and the Local Electrode Atom Probe (LEAP 4000). Additionally, this approach allows a comparison of the spatial resolution of these two devices.